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ASTM D3260-2001(2005) 适用于工厂的压制铝制品透明涂层的耐酸和耐灰浆标准试验方法

作者:标准资料网 时间:2024-03-29 19:58:57  浏览:9327   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:StandardTestMethodforAcidandMortarResistanceofFactory-AppliedClearCoatingsonExtrudedAluminumProducts
【原文标准名称】:适用于工厂的压制铝制品透明涂层的耐酸和耐灰浆标准试验方法
【标准号】:ASTMD3260-2001(2005)
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2001
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:D01.55
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:覆层;试验;挤压
【英文主题词】:acidresistance;differentiationofcoatings;extrudedaluminumparts;mortarresistance;uniformcontinuousfilm
【摘要】:Thistestmethodwillprovidedifferentiationbetweentypesofcoatingsforacidandmotorresistanceprovidingthecoatingisappliedinauniformcontinuousfilmwithaspecifiedfilmthickness.1.1Thistestmethodcoverstheevaluationofthemortarandacidresistanceofclearprotectivecoatingfactoryappliedtoextrudedaluminumsubstrates.1.2ThevaluesstatedinSIunitsaretoberegardedasthestandard.Thevaluesgiveninparenthesesareforinformationonly.1.3Thisstandarddoesnotpurporttoaddressallofthesafetyconcerns,ifany,associatedwithitsuse.Itistheresponsibilityoftheuserofthisstandardtoestablishappropriatesafetyandhealthpracticesanddeterminetheapplicabilityofregulatorylimitationspriortouse.
【中国标准分类号】:G50
【国际标准分类号】:87_020
【页数】:2P.;A4
【正文语种】:


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基本信息
标准名称:岩石薄片鉴定
英文名称:Thin section examination of rock
中标分类: 石油 >> 石油勘探、开发与集输 >> 石油勘探、开发与集输工程综合
ICS分类: 石油及相关技术 >> 石油和天然气的开采与加工
替代情况:SY/T 5368.1-1989 SY/T 5368.2-1995 SY/T 5368.3-1989 SY/T 5368.4-1989 SY/T 5368.5-1995
发布部门:国家石油和化学工业局
发布日期:2000-03-10
实施日期:2000-10-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:1900-01-01
主管部门:国家石油和化学工业局
提出单位:中国石油天然气集团公司
归口单位:石油地质勘探专业标准化委员会
起草单位:中国石油天然气集团公司石油勘探开发科学研究院实验中心、四川石油管理局石油勘探开发研究院、大庆石油管理局石油勘探开发研究院
起草人:郭宏莉、张荫本、胡迁勇、罗忠、白新民、杨奕华、陈继高
出版社:石油工业出版社
出版日期:2000-10-01
页数:31页
批文号:6828-2000
适用范围

本标准规定了在偏光显微镜下岩石薄片的鉴定程序、岩石分类、命名和质量要求。
本标准适用于石油天然气行业岩石薄片的鉴定。

前言

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目录

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引用标准

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所属分类: 石油 石油勘探 开发与集输 石油勘探 开发与集输工程综合 石油及相关技术 石油和天然气的开采与加工
基本信息
标准名称:QDZ气动单组合仪表压力、差压变送器 产品质量分等
替代情况:JB/T57309-94
发布部门:全国工业过程测量和控制标委会
发布日期:1999-08-06
实施日期:2000-01-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:1900-01-01
出版日期:1900-01-01
适用范围

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所属分类: 仪器 仪表 光学仪器 光学仪器综合 计量学和测量 物理现象 光学和光学测量 光学测量仪器

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