GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验 第1部分:总则
作者:标准资料网 时间:2024-05-05 18:01:22 浏览:8738
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基本信息
标准名称: | 半导体器件 机械和气候试验 第1部分:总则 |
英文名称: | Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 1: General |
中标分类: | 电子元器件与信息技术 >> 半导体分立器件 >> 半导体分立器件综合 |
ICS分类: | 电子学 >> 半导体器件 |
替代情况: | 替代GB/T 4937-1995 |
发布部门: | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
发布日期: | 2006-08-23 |
实施日期: | 2007-02-01 |
首发日期: | 1985-02-06 |
作废日期: | |
主管部门: | 信息产业部(电子) |
提出单位: | 中华人民共和国信息产业部 |
归口单位: | 全国半导体器件标准化技术委员会 |
起草单位: | 中国电子科技集团公司第十三研究所 |
起草人: | 陈海蓉、崔波 |
出版社: | 中国标准出版社 |
出版日期: | 2007-02-01 |
页数: | 6页 |
计划单号: | 20030194-T-339 |
适用范围
本部分代替GB/T 4937-1995《半导体器件 机械和气候试验方法》第Ⅰ篇总则。本部分适用于半导体器件(分立器件和集成电路)并为GB/T 4937系列的其他部分建立通用准则。
前言
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目录
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引用标准
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所属分类: 电子元器件与信息技术 半导体分立器件 半导体分立器件综合 电子学 半导体器件
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